Структурная электронография - Вайнштей Б.К.
Скачать (прямая ссылка):
диффракция является двумерной. При четком разделении в обратном
пространстве узлов ААО, AM, АА2 и так далее диффракция является
трехмерной. В крупных (для электронографических исследований) кристаллах
происходит динамическое рассеяние. Однако как раз электронограммы от
образцов с двумерностью диффракции и от образцов, в которых рассеяние
имеет динамический характер, менее пригодны для оценки интенсивностей и
установления статистики погашений. Наиболее подходящими для структурных
исследований следует считать электронограммы от мозаичных образцов, по
которым можно проводить полное определение элементарной ячейки и надежно
оценивать интенсивности.
§ 3. Геометрия точечных электронограмм и определение по ним
элементарной ячейки
Точечная электронограмма является изображением одной из плоскостей
обратной решетки, проходящих через начало координат. Поэтому рассмотрение
геометрии и определения элементарной ячейки по точечным электронограммам
сводится к рассмотрению возможных плоских сеток обратной решетки
кристаллов различных систем и связи между ними.
38
Симметрия точечных электронограмм [4]. Существование центра симметрии в
узле ООО обратной решеткй приводит к тому, что при наличии 32 классов
симметрии кристаллов можно различить только И классов симметрии
диффракционных явлений (лауэв-ских классов), т. е. видов симметрии
обратной решетки, среди которых известным образом распределены 32
кристаллических класса. Эти 11 видов различают в рентгенографии путем
получения лауэграмм, симметрия которых прямо отвечает симметрии
диффракционного класса при съемке по соответствующему направлению.
Симметрия электронограмм - это симметрия плоских сеток обратной решетки,
проходящих через узел ООО - центр симметрии. Точечные электронограммы
могут обладать симметрией тОх точечных групп на плоскости, которые имеют
центр симметрии, или, как это принято для плоских групп, обладают двойной
осью С2.
Из 10 возможных точечных плоских групп
6*1 > С6, 6J3v, vt
остается лишь шесть:
6^21 С^6> ^2v> С
Выпавшие группы Clf С3, Clv и Сзе присоединены к оставшимся добавлением к
каждой из них двойной оси.
Таким образом, имеется всего шесть классов симметрии точечных
электронограмм. На рис. 17 классы симметрии точечных электронограмм
сопоставлены с И классами диффракционных явлений. В первом столбце
указана симметрия электронограмм; во втором приведены те диффракционные
классы, которые могут проявить себя в электроно-граммах соответствующего
класса при съемках по различным направлениям; в третьем столбце указано,
для какого диффракционного класса данная симметрия электронограммы
является наивысшей (кристалл снимается по наиболее симметричному
направлению). На рис. 18 показано строение нулевого слоя обратной решетки
этих классов симметрии.
Для исследования кристаллической структуры ценны точечные
электронограммы, снятые именно по направлениям с наибольшей симметрией,
т. е. по направлениям главных осей. При этом в случае съвхмки по оси с
(т. е. когда направление первичного пучка совпадает с направлением оси с)
на электронограмме фиксируется сечение, совпадающее с осями а* и Ь*
обратной решетки, т. е. ее нулевой слой, в котором расположены ААЮ-
рефлексы. Снимая кристалл по разным направлениям, т. е. поворачивая
препарат под различными углами к начальному пучку электронов, можно
получать другие сечения обратной решетки (также проходящие через узел
ООО), обладающие симметрией, низшей по сравнению с главным сечением, но
обязательно принадлежащей к одному из указанных выше шести классов.
Симметрия электронограмм выше симметрии рентгенограмм вследствие
обязательного присутствия двойной оси. Вследствие этого в один
39
электронографический класс С6 попадают диффракциошше классы С6Л и C3i, й
класс Ст - классы DQk и D3d (ибо тройная ось превращается в шестёрную). В
диффракционный (лауэвский) класс C2h входят все три кристаллических
класса моноклинной системы. Обратная решетка кристаллов класса C2h имеет
два основных прямоугольных
Класс симметрии электронограмм Возможная диффракционная
симметрия Наивысшая для диффракционного класса симметрия Электронограммы
все классы Ь
<• с* с"
f 4 ^6h'^3i'^h
<* С g ь1ъ Все классы, кроме CL,C3l ^\ь * ^гь
(z С"
'У* Ok Cev ^3d*^6h'^h
Рис. 17. Сопоставление классов симметрии электронограмм с классами
симметрии диффракционных явлений.
сечения, соответствующих зонам ккО и 0к1. Прямоугольными будут также все
сетки, проходящие через ось Ь*. Согласно симметрии класса C2h, эти сетки
имеют плоскость симметрии, а наличие двойной оси на электронограмме
приводит к появлению второй плоскости симметрии, перпендикулярной к
первой. Таким образом, диффракционный класс C2h вместе с классом D2h
имеет на электронограммах, снятых по наиболее симметричному направлению,
симметрию C2v.
Электронограммы IV, V, XIII являются примерами снимков различной
симметрии. Для определения симметрии обратной решетки в целом, т. е.
