Оптические свойства полупроводников - Уиллардон Р.
Скачать (прямая ссылка):
16. Brout R., Phys. Rev., 113 43 (1959).
17. R о s e n s t о с k H. В., Phys. Rcv., 129, 1959 (1963).
18. Stierwalt D. L., Potter R. F. ,в книге Proc. Intern. Conf. Phys. Semicond. (Exeter 1962), London, 'i962 p. 513.
19. K а І s e r W-, K e с k H., L a n g e C. f., Phys. Rev., 101, 1264 (1956): Гл. 2. M нигофононнуе решеточное поглощение
79
20. Kaiser W., Thurmond С. Jcmrn. Appl. Phys., ЗО 427 (1959).
21. К а і э е г W., В о и d W. L., Phys. Rcv., 115, 857 (1959).
22. К 1 е і n m a n D. A., S р і t z о r W. G., Phys. Rev., 118 110 (I960).
23. Sm і t h S. D., На rdy J. R., M і t с h е 1 1 Е. W. J., в книге Proc. Intera. Conf. 1'h.ys. Semicond. (Exter, 1962). London 1962 p. 529.
.24. Fan H. Y., Ramdas A. K., Joura. Appl. Phys., ЗО, 1І27 (1959).
25. Balkanski M., Mazerewics W., Journ. Phys. Chem. Sol. 23, 573 (1962).
26. Lord П. C., Phys. Rev 85, 140 (1952).
27. Briggs H. В., Jorn. Opt. Soc. Am., 42, 686 (1952).
28. Collins R. J., Fan H. Y„ Phys. Rev., 93 674 (1954).
29. Brockhousc B. N., Jonen. Phys. Chcm. Sol., 8, 400 (1959).
30. Brockhouse B. N., Phys. Rev. Lett., 2, 256 (1959).
31. D о 1 I і n g G., в книге Paper presented at the Symposium on Jaelastic Scattering oi Neutrons ia Solids and Liquids, Chalk River, Oatario, 1962.
32. Brockhouse B. N., I у e n g а г P. K., Phys. Rev., Ill, 747 (1958).
33. Coehraa W., Proc. Roy. See. A253, 260 (1959).
34. Hardy J. R., Smith S. D., Phil. Mag., 6, 1163 (1961).
35. Lely J., Kroger F. А., в книге Halbleiter uad Phisphore, Braua-schweig — New York, 1956, p. 514.
36. S p і t z e r W. G., Kleinman П. A., Walsh D., Phys. Rev-113, 127 (1959).
37. S p і t г e T W. G., K 1 о і n m a n D, A., F г о s с h C. J., Phys. Rev.,. 113, 133 (1959).
38. P a t r і с k L., Choyke W. J., Phys. Rev., 123, 813 (1961).
39. Choyke W. J-, Patrick I.., Phys. Rev., 127, 1868 (1962).
40. Brairnstein R., Phys. Kev., 130, 879 (1963).
41. Cochran W., Fray S. 1. Johnson F. A., Qnarring-ton J. E., W і 11 і ams N. Jodrn. Appl. Phys.; 32, 2102 (1961)-
42. Sp it лег W. G., Joura. Appl. Phys. 34 792 (1963).
43. W a u gh J. L. Dolling G., Phys. HeV- 132, 24Ю (1963).
44. Hrostowski H., F u 11 e r C. S., Joura. Phys. Chem. Sol., 4, 155 (1958).
45. Oswald Zs. Natur forsch., 14a, 374 (1959).
46. Lorimor O. G., Spitzer W. G., Joura. Appl. Phys., 36, 1841, (1965).
47. H а s s M. Henvis B. W., Journ. Phys. Chcm. Sol., 23, 1099 (1962).
48. Spitzer' W. G.. Fa « H- Y-, Phys. Rev., 99, 1891 (1955).
49. F г а у S, J., Johnson F. A., J о « e s R. H., proe. phys. Soc., 76, 939 (i960).
50. Newman R. Phys. Rev., 111. 1518 (1958).
51. Turner W. J. Reese W. E., phys. Rev., Il7, 1003 (1960).
52. Turner W. J-'. Reese W. E., Phys. Rev., 127, 126 (1962).
53. В a I k a n s k і M., B e s а о n J. M., Journ. Appl. Phys. 32 2292(1961).
54. Deutsch T-, Jour,,. A1,pl. Phys.. 33, 751 (1962).
55. Mitra S. S., Phys. LeLt.. 6, 249 (1903).
56. Deutsch Т., и книге Proc. Intern. Conf. Phys. Semlcoad. (Exeter, 1962, London. 1962), p. 505-
57. A V e n M., M а г p 1 e 1). T. F., S e g а И B., Joura. Appl. Phys., 32. 2261 (1961).
58. Johnson F. A., Progr. Semicond., 9, 179 (1965).
59. Yarnell J. L., VVarrcn J. L., Wenge} R. G., Phys. Rev. Utt., 13, 13 (1964). з
ИССЛЕДОВАНИЕ ИЗЛУЧЕНИЯ КРИСТАЛЛИЧЕСКОИ РЕШЕТКИ
Д. Стирволт, P. IIommep*)
§ 1, ВВЕДЕНИЕ
Когда излучение падает на поверхность образца, часть его отражается, часть поглощается, а оставшаяся часть проходит сквозь образец. Если падающее излучение полностью поглощается, то такой объект называют абсолютно черным телом.
Спектральная мощность излучения такого идеального черного тела, т. е. мощность, испускаемая единицей площади в единичном интервале длин волн, дается формулой Планка
где C1 = 2лс%, C2 = hc/k, h — постоянная Планка, к — постоянная Больцмана, с —- скорость свота, X — длина волны в вакууме, T — абсолютная температура.
Поток, испускаемый в спектральном диапазоне от X до X -(-равен Wx (T) Д/,. Доля падающего излучения, поглощаемая объектом, называется спектральной поглощательной способностью А\.
Согласно закону Кирхгофа, такой объект испускает тепловое излучение в количестве
где спектральная излучательная способность Е\ = Ax, а H7OX (T) — тепловое излучение, наблюдающееся при температуре Т. Излучательная способность определяется как отношение теплового излучения тела при данной температуре к тепловому излучению черного тела при той я;е температуро и равна поглощательной способности этого тела.
Рассмотрим полупрозрачный образец с плоскопараллельными и хорошо отражающими поверхностями в спектральной области, где к/п 1 (и* = п — ік — комплексный показатель преломле
Wok (T) =ExWk (T) = AlWx (J),
(2)
*) D. L. Stiecwalt, R. F. P о t t е г," U.S. Naval Ocdnance Laboratory, Corona, California. Гл. 3. Исследование излучения кристаллической решетки. 81
ния). Отражение, пропускание и поглощение описываются следующими выражениями:
