Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Физика -> Порохов А.М. -> "Физическая энциклопедия Том 4" -> 620

Физическая энциклопедия Том 4 - Порохов А.М.

Порохов А.М. Физическая энциклопедия Том 4 — М.: Большая российская энциклопедия, 1994. — 701 c.
Скачать (прямая ссылка): fizenciklopedt41994.djvu
Предыдущая << 1 .. 614 615 616 617 618 619 < 620 > 621 622 623 624 625 626 .. 818 >> Следующая


Атомная структура поверхности свежего скола монокристалла графита (долго остающегося чистым на воздухе) часто служит в качестве тест-объекта (рис. 3).

Это фотография экрана телевнз. трубки, представляю-538 щая собой результат сканирования образца, при к-ром

Поверхность <100) монокристалла Si, обработанная по высшему классу точности.

Успех С. т. м. вызвал появлеипе аналогичных методов исследования поверхностей посредством электрич., световых и др. датчиков. Среди них наиб, интересен сканирующий атомно-силовой микроскоп, основанный
на измерении сил, действующих на микроскопич. алмазное остриё, находящееся на расстоянии ~ 3—HO А от поверхности образца (к-рый может быть диэлектриком); остриё укрепляется на чувствнт. пружине, деформации к-рой намеряются прн помощи С. т.м. [2].

Наиб, важные области применения С. т. м.: исследования атомного строения поверхностей, металлических, сверхпроводящих и полупроводниковых структур, явлений адсорбции и поверхностных хнм. процессов, структуры молекул н бнол. объектов, технол. исследования в областн микро- и субмикроэлектроннкн, плёночных покрытий и обработки поверхностей; применение С. т. м. как инструмента обработки поверхностей в субмикроскопич. масштабе и т. д.

JIvm.: 1) Б і л n і ng G. ,Rohrer H., Scanning tunneling microscopy, «Helv. Phys. Acta», 1982, v. 55, № 6, p. 726; 2)Эдельман B.C., Сканирующая туннельная микроскопия, «ПТЭ», 1989, J44 5, с. 25; его же, Развитие сканирующей туннельной іі силовой микроскопии, йПТЭ», 1991, № 1, с. 24; 3) X а й к и н М. С. и др., Сканирующие туннельные микроскопы, «ПТЭ», 1987, JA 4, с. 231; 4) В е с k е г R. S. и др., TunneIingimagesofatomic steps on the Si (111) 7X 7 surface, «Phys. Rev. Lett.», 1985, v. 55, JA 19, p. 2028; 5) Хай-хин М. С. и др., Сканирующая туннельная микроскопия границы раздела Si — SiO1 в МДП-структуре, «Письма в ЖЭТФ», 1986, т. 44, X» 4, с. 193. М. С. Хайкин.

СКАЧКООБРАЗНЫЕ МАРКОВСКИЕ ПРОЦЕССЫ — класс марковских случайных процессов, у к-рых значения изменяются мгновенно (скачкя) в отдельные (случайные) моменты времени. В наиб, простом случае, когда марковским процесс t^R1} может принимать лишь

конечное или счётное число значений X1, ..., хп, ... для любого фиксиров. момента времени t0, условная вероятность того, что в момент времени t0 тЬ А* (Л# > 0) процесс примет значение + = у{~х^) прн усло-

вии, что его значение в момент времени I0 совпадает с z (—х? Zfc) (вероятность перескока нз X3 в Xft), равна:

*,*(>)Л*4-о( Л *)• (*>

1 При этом уел. вероятность того, что значение X в течение промежутка времени At не изменится, оказывается равной

1~^(у,ДЛ)А*+°(А*)- (2)

V

Величины \q(x, у у t) ^ 0, х у} наз. ннфннитезималь-иымя вероятностями перехода марковского процесса {?(, fefi1}. По иим полностью восстанавливается переходная ф-ция Р(х, у, , (,) процесса, т. е. условная вероятность принять процессу в момент времеин (2 значение у при условии, что в момент времени J1 он принял значение х.

В случае, когда множество возможных значений I С. м. п. , к Й1) оказывается непрерывным, ф-ла j (I) выражает плотность P&t(y/^ta ~ х) условной веро-I йтности «перескочить* от значения х к значенню у за I время At [при этом в ф-ле (2) сумму по у следует заме-j вить интегралом].

j Всякая реализация (a?(f), J Є Л1} С. м. п. представ-I ляет собой кусочно-постоянную ф-цню, у к-рой скачки (разрывы) происходят лишь в отд. нзолиров. моменты і времени и число таких скачков за любой ионечнын интервал времени конечно.

JIum.: Г и X м а н И. И., Скороход A1 В., Введение в теорию случайных процессов, м., 1965. Р. А. Минлос.

СКАЧОК КОНДЕНСАЦИЙ — особая форма сиачка уплотнения, возникающая в усиоряющемся сверхзвуковом потоке газа (напр., воздуха) в результате конденсации содержащихся в иём паров воды. При увеличении скорости текущего газа, темп-pa торможения к-рого постоянна, его статич. темп-pa монотонно убывает в соответствии с ур-нием:

где k — Cpicy — отношение теплоёмкостей при пост, давлении и объёме, M — Маха число. Для заданной абс. влажности воздуха а fr/м8] относит, влажность г

возрастает по мере понижения темп-ры. В случае достаточно быстрого падения темп-ры ниже ирнтнчесной и при малом кол-ве ядер ионденсации возникает существ, переохлаждение (перенасыщение) водяных паров. В результате практически мгновенной объёмной конденсации паров воды и соответствующего выделения скрытой теплоты испарения возникает скачок уплотнения, отличающийся от обычных изменением полной энтальпии (н, следовательно, темп-ры торможения) газа в направлениях нормали и фронту скачка. Прн Tq 300 К и относит, влажности г я» 50% С. к. возникает прн числах M яц 1,2. С. к., наблюдающиеся в соплах аэродинамических труб, обычно имеют я-образную форму. Образование С. к. приводит к существ, неравномерности поля скоростей и непредсказуемому изменению параметров торможения потока в рабочей части, что затрудняет эисперим. исследования; поэтому совр. аэро-динамич. трубы оборудуются спец. установками для

ОСушеНИЯ ВОЗДуха. М. Я. Юделович.
Предыдущая << 1 .. 614 615 616 617 618 619 < 620 > 621 622 623 624 625 626 .. 818 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed