Научная литература
booksshare.net -> Добавить материал -> Физика -> Бонч-Бруевич В.Л. -> "Сборник задач по физике полупроводников" -> 27

Сборник задач по физике полупроводников - Бонч-Бруевич В.Л.

Бонч-Бруевич В.Л., Звягин И.П., Карпенко И.В., Миронов А.Г. Сборник задач по физике полупроводников — М.: Наука, 1987. — 144 c.
Скачать (прямая ссылка): sbornikzadachpofizikepoluprovodnikov1987.pdf
Предыдущая << 1 .. 21 22 23 24 25 26 < 27 > 28 29 30 31 32 33 .. 46 >> Следующая


77 К получаем ЛГдь/га»0гЗ и при 4,2 К получаем

ЛгУ««4,6-1012,

38. Как было показано в задаче 34, в указанных условиях уровень Ферми смещается от одного уровня примеси к другому, и

o2/oi « щ/щ = ехр[(?’а — Ei)/kT] = exp(U/kT). Отсюда

U = kT\n (o2/oi) * 0,3 эВ.

39. Согласно задаче 34 при Nsb < NCu уровень Ферми

близок к Еи a Arcu<C-/Vcu, поскольку Ег — Et> kT. Таким образом, и, полагая Еъ — Е% =

76
?„(300 К)—0,32 эВ — 0,26 эВ, получаем

ДГ= — ^2

< Си

N2

ivSb

8\

Си

¦N,

Sb

exp

6,8-10й см'

При N си < < 2iVCu уровень Ферми близок к Е2, и

Ncm » Ncu, a iVcu= iVgi - Ncu = 2 • 101в см'3.

40. Для того, чтобы обобщить рассмотрение задач 34, 35 на случай полупроводника с четырьмя примесными уровнями, нужно записать условие нейтральности для рассматриваемой системы:

Ni + 2Nz + 3iVs = iVAu + 7Vsb — NB. (1)'

Удобно ввести параметр, характеризующий концентрацию мелких компенсирующих примесей:

v =(iVAU + NSb — Nb)/Nau.

Положение уровня Ферми определяется условием (1) с

Рис. 23. Изменение положения уровня Ферми при низких температурах в германии с золотом, легированном мелкими примесями (схематически).

учетом соотношений (1.29) . Подобно задаче 34 получаем, что концентрационная зависимость уровня Ферми при низких температурах имеет вид, схематически показанный на рис. 23.

41. В рассматриваемых условиях (2NAn<Nsb<3NAa) при записи условия нейтральности достаточно учитывать лишь верхний уровень золота:

N au ~Ь п =“= N— 2Nди-

77
Введя обозначения

(7Vsb - 2NAU)/NAU = 1 -К, х — exp [(F - Et)fkT\ n0 = A^c exp [— (Ec — E3)/kT],

получим

‘ gsx/ (gi + g>x)+-n<,x/NM = 1 -K.

Отсюда

x = (2g„n0/NAU)-{{-gaK - g2nJNAV, +

+ [(gsK + g2nJNAay + Ag,g3(l-K)na/NAa}'/2}. (1)

Имеем n„ * 4,9 • 1017 cm-3, t. e. na » JVAU и x = = (1 — K)NAu/n0, а концентрация равна

n = nax — (1 — K) NAa = Nsb — 2NAa = 2 • 1015 cm“3.

Таким образом, в рассматриваемых условиях верхний уровень золота почти полностью ионизован.

42. Поскольку NAu< Nsb<2NAU, условие нейтральности имеет _ вид Nju + п = -Nqь — NAu. Соответственно положение уровня Ферми определяется выражением (1) предыдущей задачи, в котором

1 _ к = (Na - NAU)/NAa, п0 = Nc exp [- (Е„ - Et)/kT],

х = С'хр [(F— Ёг)/кТ],

а gz, g> заменены на gu g2. Имеем п0» 101! см-3, n0/NAU » 0,2, и, полагая = g2 = 1, находим х * 0,5. Таким образом, искомая концентрация равна 5 • 10й см-3.

43. Поскольку при рассматриваемой низкой темпера-

туре п0 < NAa, положение уровня Ферми нетрудно найти из общего выражения для х, полученного в задачах 41,

42. Имеем ----- - .

F -Ех + kTln [gl (Nib — .Va,)/^(2.Vau - Nsb)]. Отсюда

n = [gi (Nsb — NAa)/g2(^VAU — NSb)] Nc exp [— (E„ —

-E2)/kT] * 10- 223.

Разумеется, подобная концентрация ненаблюдаема. Физически гораздо большая (хотя и достаточно малая) концентрация электронов в зоне проводимости даже при очень низкий температурах создается за счет неустранимой подсветки (см. задачу 59).

44. Условие нейтральности имеет вид

Ni+ 2Nt *= \N,

78
где Nt и Nz даются выражениями, приведенными в решении задачи 32, в которых U = —U0, a v — число электронов на дефект,

v = (N + Nd — Na)/N.

Введя обозначение

х = exp [ (F — Et)/kT],

где Еj — энергия уровня дефекта, отвечающего присоединению первого электрона, мы найдем

(2 — v)g2 exp [UJkT] хг +'(1 — v) ga — g0v = 0. Отсюда

x = [2 (2 — v) g2\~l {— (1 — v) gx + [(1 — v)2gi +

+ 4v (2 - v) g0g2 exp (UJkT) ]1/2j exp (- U JkT). В условиях, когда U0>kT, получаем

Un

2 kT

F = Ei — Uj2 - (kT/2) In [g2 (2v"‘ - 1) /*»].

Уровень Ферми слабо (логарифмически) зависит от концентрации мелких примесей во всей области, где дефекты

Рис. 24. Зависимость уровня Ферми от концентрации мелких примесей в полупроводнике, содержащем дефекты с отрицательной энергией корреляции (схематически).

рассматриваемого типа играют основную роль (см. рис. 24).

45. Используя результат предыдущей задачи, находим

F (v2) - F (vx) = - (kT/2) In [(2v7l - 1)/(2уГ1 - l)].

В ' рассматриваемых условиях Vi = 4/3, v2 == 2/3 и /’(2/3) —/’(4/3) ='—1,8 • 10'2 эВ.

79
Температурное смещение уровня Ферми определяется выражением

F(2,1)-F(2,1) = (Jfe/2>(2,1- r.Jln^v-1 - 1).

Отсюда при v = 4/3, g0 = g2 = 1 имеем

F(300 K)-F(100 К) == 6 • 10_3 эВ.

Глава 2

РЕКОМБИНАЦИЯ НОСИТЕЛЕЙ‘ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ
Предыдущая << 1 .. 21 22 23 24 25 26 < 27 > 28 29 30 31 32 33 .. 46 >> Следующая

Реклама

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed

Есть, чем поделиться? Отправьте
материал
нам
Авторские права © 2009 BooksShare.
Все права защищены.
Rambler's Top100

c1c0fc952cf0704ad12d6af2ad3bf47e03017fed