Физическая энциклопедия Том 4 - Порохов А.М.
Скачать (прямая ссылка):
Установлено, что терапевтич. воздействие рентгенов» ского и гамма-излучеиий правильнее связывать н» с экспозиц. дозой этого излучения в воздухе, а с по* глощённой дозой излучения в тканях организма. , ,
Лит.: Поройков И. В., Рентгенометрия, М.— Л.» 1950. М. Ф. Юдигі.
РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНИЙ АНАЛИЗ — элементный анализ вещества по его рентгеновскому спектру. Качественный Р. а. выполняют по спектральному положению лиинй характеристич. спектра испускания исследуемого образца; его основа — Мозли закон. Количественный Р. а. осуществляют ио интенсивностям этих лнннй. Методами Р. а. могут быть определены все элементы с ат. номерами Z > 9 (а иек-рых случаях и более лёгкие).
Наиб, распространено возбуждение рентг. флуоресцентного спектра (вторичного спектра) образца падахк щим иа него первичным излучением рентг. трубки. Предел обнаружения элементов по вторичным флуоресцентным спектрам составляет ~10~3—IO-4 %; прн аиалнзе по третичным спектрам (вторичной флуорес1-цеиции), а также при возбуждении реитг. излучения протонами с энергией 1—2 МэВ предел обнаружения элементов снижается до ~10_6—10_в %. Относит, точность количественного Р. а. вдалп от предела Oenapyi женпя может достигать 1% н менее.
Анализ валового состава по флуоресцентному излучению образцов — высокопроизводительный (весь процесс анализа занимает 5—10 мни) и иеразрушающпй метод хим. анализа твёрдых тел. Р. а. производят пб одной нз иаиб. интенсивных линнй в спектре анализируемого элемента (т. н. аналитпч. линии). Зависимость интенсивности 1 такой спектральной линии от содержания Сд элемента А в пробе (аналптич. график) может быть построена по стандартным образцам известного состава.
Исследуемая проба состоит из анализируемого элемента и матрицы — всей остальной части пробы. Вид аналитич. графика зависит от поглощат. способности
Рис. I. Аналитический график при различных коэффициентах поглощения матрицы ц.м: 1 — рік равно коэффициенту поглощения анализируемого элемента цл,
2 — < Ц.АІ з — > PA-
I
1
I
і
матрицы и анализируемого элемента: если они одинаковы, график представляет собой прямую (рис. 1), если матрица поглощает больше (меньше), чем анализируемый элемент, то график — кривая, обращённая выпуклостью вниз (вверх). Интенсивность аналитич.
линии сильно зависит от состава матрицы и гетерогенности пробы (крупности зёреи). Существуют разл. методы преодоления этих трудностей, связанные в оси. со спец. приготовлением пробы.
Одни из наиб, распространённых методов Р. а.— метод внутр. стандарта состоит в том, что в пробу добавляют известное кол-во элемента В, соседнего (по периодич. системе элементов) с анализируемым элементом А. Иитенсивиость аиалитич. линий элементов А н В, расположенных в спектре близко один от другого, с изменением состава матрицы изменяется почти одинаково. Затем строят зависимость отношений интенсивностей лииий А и В от отношения их концентраций. Существует также метод, основанный иа введении в пробу иеск. разл. добавок ДСА анализируемого элемента А, построении графика зависимости интенсивности Ia (за вычетом фона) от ДCa и экстраполяции его до абсциссы, т. е. до значення Ia — 0, для отсчитывания значения —(ACa)0- Искомое значение Ca = (ДCa)0.
Метод разбавления пробы нейтральной средой заключается в том, что элементом, мало влияющим иа интенсивность аиалитич. линии, разбавляют пробу в 5—10 раз, тем самым снижая влияние мешающих элементов; его применяют в том случае, когда содержание Определяемого элемента достаточно велико.
¦' В поточном пронз-ве часто производят Р. а. на все элементы пробы, для чего служат методы виеш. стандарта, в к-рых по интенсивностям аиалитич. линий и соответствующих линий стандартных образцов находят содержание элементов в пробе. Одни нз таких методов — метод множественной регрессии; в нём для определения концентрации Cm элемента M используют полином:
Си=ям,о+ ^qmq/q+Zm ^ амо/(3+2амо 7Q-^" ”
Q Q*m Q
где I0 и Im — интенсивности линий Q-го и М-го элементов пробы. Коэф. амо, a aопределяют по стандартным образцам, число к-рых достигает иеск. десятков. Малые члены полинома не учитывают, расчёты осуществляют иа ЭВМ. Возможности метода ограничены необходимостью большого числа стандартных образцов н зависимостью коэф. от области концентраций.
Метод теоретич. поправок предполагает аддитивность поправок, вносимых каждым элементом матрицы в интенсивность аналитич. линии. Если интенсивность аналитич. лииип элемента А в пробе /А, а эталоне /А,„, то в первом приближении концентрация
^А^^А,ат(^А^А,эт)-
В том случае, когда концентрации элемента M в пробе и в эталоне мало отличаются одна от другой (I Cm,87 — Cm I — 1 %), концентрацию Ca находят по ф-ле:
Ca —Са,о[і +2 °АМ^М,ЭТ—^m)] »
M
где ялм — поправка на элемент М; такие поправки могут быть найдены теоретически для каждой пары AM элементов. Концентрацию Ca находят с помощью пос-ледоват. приближений, в расчётах используют ЭВМ.
В .методе фуидам. параметров используют точную аналитич. зависимость интенсивности аналитнч. линнн элемента от осн. физ. параметров пробы, найденную для смешанного характеристич. и тормозного первичного излучения рентг. трубки.
