Химия твердого тела. Теория и приложения: В 2-х ч. Ч. 1 - Вест А.
ISBN 5-03-000056-9
Скачать (прямая ссылка):
17. Jenkins R., An Introduction to X-ray Spectrometry, Heyden, 1974.
18. Lippmaa E. et ai, J. Amer. Chem. Soc, 102, 4889 (1980).
19. Meinke W. W., Characterisation of solids — chemical composition, in: Treatise on Solid State Chemistry, Hannay N. B. (ed.), Vol. 1, Plenum Press, 1973.
20. Newnham R. E., Roy R., Structural characterisation of solids, in: Treatise on Solid State Chemistry, Hannay N. B. (ed.), Vol. 2, p. 437, Plenum Press 1975.
21. Rabenau A., Solid State Ionics, 6, 277 (1982).
22. Roberts M. W., Photoelectron spectroscopy and surface chemistry, Chem Brit., 1981, 510.
23. Scott B. A., Burns G., J. Amer. Ceram. Soc, 55(5), 225 (1972).
24. Siegbahn et al., ESCA: Atomic, Molecular and Solid State Structure Studies by Means of Electron Spectroscopy, Alrnquist and Wickells, Uppsala 1967
25. Stren E. A., Sei. Amer., 234 (4), 96 (1976).
26. White E. W., Gibbs G. V., Amer. Miner., 54, 931 (1969).
Литература
131
27. Zussman J. (erf.), Physical Methods in Determinative Mineralogy, Academic Press, 1977.
Дополнительная литература. Ватырев В. А. Рентгеноспектральный элект-роинозондовый микроанализ. — М.: Металлургия, 1982; Бирке Л. С. Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда. — М.: Металлургия, 1966; Вертхайм Г. Эффект Мёссбауэра. Принципы и применения. — М.: Мир, 1966; Горелик С. С, Расторгуев Л. II., Скаков Ю. А. Рентгенографический и электроннооптический анализ. Практическое руководство по рентгенографии, электронографии, электронной микроскопии металлов, полупроводников, диэлектриков. — М.: Металлургия, 1970; Григорьев А. И. Введение в колебательную спектроскопию неорганических соединений. — М.: Изд-во МГУ, 1977; Гюн-тер X. Введение в курс спектроскопии ЯМР. — М.: Мир, 1966; Драго Р. С. Физические методы в химии. Т. 1, 2. — М.: Мир, 1981; Ермаков В. И. Методы физико-химических исследований: Учебное пособие. ЭПР, оптическая спектроскопия. Ч. V., VI. — М.: Изд-во МХТИ, 1980; Зайцев Б. Е. Спектроскопические методы в неорганической химии. — М.: Изд-во Университета Дружбы народов, 1979; Микроскопия и растровая электронная микроскопия/Под ред. Мориса Ф. — М.: Металлургия, 1985; Накамото К. Инфракрасные спектры неорганических и координационных соединений. — М.: Мир, 1966; Нефедов В. И. Рент-геноэлектронная спектроскопия. — М.: Знание, 1983; Нефедов В. И. Реитгено-электрониая спектроскопия химических соединений: Справочник.—-М.: Химия, 1984; Пуле А., Матье Ж--П. Колебательные спектры и симметрия кристаллов.— М.:Мир, 1973; Гоулдстейн Дою., Ныобери Д., Эглин П. и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. — М.: Мир, 1984 (В 2-х книгах); Стойбер Р., Морзе С. Определение кристаллов под микроскопом.— М.: Мир, 1974; Томас Г., Гориндж М. Просвечивающая электронная микроскопия материалов. —М.: Наука, 1983; Уманский #. С„ Скаков Ю. А., Расторгуев Л. Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. Учебник для вузов. — М.: Металлургия, 1982; Электронная и ионная спектроскопия твердых тел./Под ред. Фирмэиса. Л. — М.: 1981.
9*
Глава 4 ТЕРМИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ
Под термином «термический анализ» (ТА) обычно понимают измерение физических или химических свойств материалов в зависимости от температуры. На практике проводят измерения не любых свойств, а таких, как энтальпия, теплоемкость, масса, коэффициент термического расширения. Простейшим примером термического анализа является определение коэффициента термического расширения металлических заготовок. Другим примером термического анализа может служить измерение изменения массы образцов кислородных солей или гидроксидов в процессе их разложения при нагревании. Современное оборудование позволяет проводить исследования широкого круга материалов. Различные варианты термического анализа используются при решении многих задач химии твердого тела: исследование твердофазных реакций, термического разложения и фазовых превращений веществ, построение фазовых диаграмм. Многие твердые вещества меняют свои свойства с изменением температуры, что открывает возможность их изучения методами термического анализа.
Основными разновидностями термического анализа являются термогравиметрический (ТГА) и дифференциальный термический анализ (ДТА). В рамках первого осуществляется автоматическая регистрация изменения массы образца в зависимости от температуры или времени. В методе ДТА измеряют разность температур АТ исследуемого материала и некоторого образца сравнения (эталона) в режиме нагревания или охлаждения. Поэтому метод ДТА позволяет определить изменение теплосодержания исследуемого материала. Метод дифференциальной сканирующей калориметрии (ДСК) близок по сути к методу ДТА. Используемое в методе ДСК оборудование позволяет количественно определять изменение энтальпии образца как функцию температуры или времени. Четвертым вариан
4.1. Термогравиметрический анализ
133
том термического анализа является дилатометрия, в рамках которой фиксируют изменение линейных размеров образца при изменении температуры. Дилатометрия длительное время использовалась для измерения коэффициентов термического решения металлов. Недавно возник новый метод термического анализа — термомеханический анализ (ТМА), который привлекают при изучении свойств различных материалов и решении других задач, например при контроле 'Качества полимеров.
