Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Том 1 - Гоулдстей Дж.
Скачать (прямая ссылка):
13. Wang D. N. K, Miller D. J, Fulrath R. M, ibid, p. 777.
14. Ward С. M, Hendricks C. D, Weinstein B. W, ibid, p. 783.
15. Bushbeck F, Horl E. M, ibid, p. 835.
16. Ncidrig H, ibid, p. 841.
17. Robinson V. N. E, George E. P, ibid, p. 859.
18. Васичев Б. H. - Оптико-мех. пром., № 11, 30 (1978).
19. Howell P. G. T. Scanning, 1, 118 (1978).
20. Arndt J, Hantsche H, Schmidt D. Scanning, 1, 125 (1978).
21. Boyde A. Scanning, 1, 157 (1978).
22. Moncrieff D. A, Barker P. R. Scanning, 1, 195 (1978).
23. Седов H. H, Дюков В. Г, Гавриков С. И. - Радиотехника и электроника,
24, 138 (1979).
24. Stohr P. L, Huabener R. P. Cryogenics, 19, 472 (1979).
25. Hiroyoshi S. Surface Sci., 86, 610 (1979).
26. Broers A. N. SEM/1979/1, SEM Inc, AMF O'Hare, 111, p. I
27. Holburn D. M" Smith К. C. A. SEM/1979/2, SEM Inc, AMF O'Hare, 111, p.
47.
28. Davidson D. L, ibid, p 79.
29. Moll S. H" ibid, p. 149.
30. Schauer P, Autrata R. J. microsc. et spectrosc. electron., 4, 633
(1979).
31. Manning М. I, Goodhew P. J. J. Phys., E12, 464 (1979).
32. Hantsche H. Scanning, 2, 20 (1979).
ч Составлена титульным редактором.
334
Литература
33. Danilatos G. D., Robinson V. N. E. Scanning, 2, 72 (1979).
34. Klaflke D., Maennig W. W., Westphal K. Scanning, 2, 129 (1979).
35. Wells О. C. Scanning, 2, 199 (1979).
36. Тупик А. А., Васичев Б. H. Оптико-мех. пром., № 8, 57 (1979).
37. Сасов А. Ю" Спивак Г. В., Рау Э. И. - Изв. АН СССР, сер.
физич., 44,
1138 (1980).
38. Бочаров Е. П. - Оптико-мех. пром., № 3, 27 (1980).
39. Sogard М. R. Scanning, 3, 210 (1980).
40. Parker В. A. Micron, 11, 331 (1980).
41. Danilatos G. D. Micron, 11, 335 (1980); Scanning, 3, 215 (1980).
42. Гелевер В. Д., Ченцов Ю. В. - Изв. АН СССР, сер. физич., 44, 1149
(1980).
43. Howell P. G. Т., Boyde A. Scanning, 3, 218 (1980).
44. Barber V. С., Emerson С. J. Scanning, 3, 202 (1980).
4-5. Stolz W. Prakt. Metallogr., 17, 554 (1980).
46. Голубев В. П., Силаев JI. Н. - Изв. АН СССР, сер. физич.,
44, 2200
(1980).
47. Pawley J. В., Hayes Th. L. Scanning, 3, 161 (1980).
48. Crewe A. V. Scanning, 3, 176 (1980).
49. Obyden S. K-, Saparin G. V., Spivak G. V. Scanning, 3, 181 (1980).
50. Tanaka K. Scanning, 3, 206 (1980).
51. Абрамов Г. Л., Васичев Б. Н. - Оптико-мех. пром., № 1, 60
(1980).
52. Rau Е. I., Sasov A. Yu., Spivak G. V. Scanning, 3, 242 (1980).
53. Невзорова Л. Н., Фаворская Л. П. - Изв. АН СССР, сер. физич., 44,
1152 (1980).
54. Дер-Шварц Г. В. - Изв. АН СССР, сер. физич., 44, 1165 (1980).
55. Neal R. J., Mills A. Scanning, 3, 292 (1980).
56. Zeitler Е. Led. Notes Phys., 112, 513 (1980).
57. Wergin W. P., Pawley J. B. SEM/1980/1, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p.
239.
58. Pfefferkorn G., Brocker W., Hastenrath М., ibid., p. 251.
59. Holt D. B., Datta S., ibid., p. 259.
60. Volbert B., Reimer L. SEM/1980/4, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p. 1.
61. Crawford С. K., ibid., p. 11.
62. Duraud S. E. M. et al., ibid., p. 49.
63. Panessa B. J. et al. Scanning, 4, 21 (1981).
64. Howell P. G. T. Scanning, 4, 40 (1981).
65. Huang L. Y. SEM/1981/1, SEM Inc., AMF O'Hare, 111., p. 21.
66. Niedrig N., ibid., p. 29.
67. Kyser D. F., ibid., p. 47.
68. Newbury D. E., ibid., p. 71.
69. Boyde A., ibid., p. 91.
70. Hart R. K. et al., ibid., p. 97.
71. Le Gressus C. Okuzumi H., Massignon D., ibid., p. 251.
72. Love G. et al. Scanning, 4, 32 (1981).
73. Krakow W. Ultramicroscopy, 6, 387 (1981).
74. Baumann W., Reimer L. Scanning, 4, 141 (1981).
75. Kotera М., Murata K., Nagami K. J. Appl. Phys., 52, 7403 (1981).
76. Balladore et al. I. microsc. et spectrosc. electron., 5, 371
(1981).
77. Danilatos G. D. Scanning, 4, 9 (1981).
78. Lewis E. R., Pawley J. B. Scanning, 4, 131 (1981).
79. Hall J. B" Hruskoci P. P. Scanning, 4, 175 (1981).
80. Kammrath W. Scanning, 4, 204 (1981).
81. Спивак Г. В., Pay Э. И., Сасов А. Ю. - УФН, 139, в. 1, 165 (1981).
82. Филиппов М. Н., Спивак Г. В., Рау Э. И. - Поверхность, № 12, 77
(1982).
83. Голубев В. П. - Радиотехника и электроника, 26, 826 (1981).
Литература
335
84. Обыден С. К-, Попов С. И., Сапарин Г. В. - Поверхность, № 11, 97
(1982).
85. Васичев Б. Н. Абрамов Г. Л. - Оптико-мех. пром., № 7, 21 (1982).
86. Васичев Б. Н., Рыбаков Ю. Л. - Оптико-мех. пром., № 8, 44 (1982).
87. Рыбаков Ю. Л., Васичев Б. Н., Шашин Е. П. - Изв. АН СССР, сер.
фи-
зич., 46, 2373 (1982).
88. Егоров В. Л., Иванов М. М., Ченцов Ю. В. - Изв. АН СССР, сер. фи-
зич., 46, 2376 (1982).
89. Vicario Е. J. microsc. et spectrosc. electron., 7, 91 (1982).
90. Werner U., Bethge H., Heydenreich H. Ultramicroscopy, 8, 417 (1982).
91. Hobbs S. Y. Rev. Sci. Instr., 53, 1097 (1982).
92. Hobburn D. М., Smith К. C. A. J. Microsc. (Gr. Brit.), 127. Pt.
1, 93
(1982).
93. Martin J. P. Prakt. Metallogr., 19, 224 (1982).
94. Walker С. Т., Giacchetti G., Ransch J. J. Phys., E15, 1235 (1982).
95. Seifert H. Cryogenics, 22, 657 (1982).
96. Иванов М. М. и др. - Изв. АН СССР, сер. физич., 46, 2379 (1982).
97. Дюков В. Г., Коломейцев М. И., Петров В. И. - Изв. АН СССР, сер.
